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Institut des Matériaux de Paris Centre
IMPC - Fédération de Recherche 2482

Séminaire Didier Léonard (LAMS) Analyse ToF-SIMS : Exemples d'application

Séminaire du LAMS

Jeudi 16 mai à 14h

LAMS- UMR 8220- CNRS | Sorbonne Université | Campus Pierre et Marie Curie | Tour 23-33 (3ème étage) | salle 319

Didier Léonard

Professeur à l’Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL)

Institut des Sciences Analytiques, UMR 5280 CNRS-UCBL

Villeurbanne, France

Analyse ToF-SIMS : exemples d'application

La technique ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) est une spectroscopie d’analyse de la surface des matériaux. Même si la quantification des données n’est pas aisée, elle possède un certain nombre d’avantages (information moléculaire, profondeur d’information de l’ordre du nm, très faible limites de détection, ...) qui la rendent particulièrement utile au niveau de l’analyse chimique d’extrême surface. La présentation abordera les caractéristiques principales de la technique et illustrera les avantages de la technique dans toute une série d’applications dont, entre autres, l’identification de contaminations, l’analyse de différents greffages chimiques, la compréhension de mécanismes tribochimiques, l’analyse de transferts entre contenant et contenu, etc.

14/05/19

Traductions :

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